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高橋 亮*; 新元 孝*; 一色 節也*; 中瀬 吉昭; 栗山 将
電気学会論文誌,A, 101(3), p.167 - 174, 1981/00
ポリエチレン、ポリプロピレン、エチレン・プロピレンゴム、ポリスチレン、およびポリイミドの各種高分子絶縁材料(シート)に室温以上の温度で放射線を照射し、照射中の誘起電流(eq)、および照射停止後のその減衰挙動(d(t))について検討した。 結晶性高分子材料(ポリエチレン、ポリプロピレン)の場合のeqの温度依存性は、非晶性高分子材料の場合ほど大きくはない。一方、線量率依存性ではeqはほぼ、線量率の1乗に比例する。しかし、高密度ポリエチレンでは、eqを得るのに長時間かかることがわかった。照射停止後のd(t)の検討から、高密度ポリエチレンで短時間にeqが観察されないのは結晶内、または結晶-非晶の界面で、長寿命荷電担体のトラップが起っているためと思われる。